采用在成像辐照度测试系统前放置半透成像膜,光源照射到白色半透膜上,在半透膜后面形成光源照射的辐照度分布,成像辐照度测试系统拍摄照度分布,经计算处理得到照射面的辐照度分布。应用于镜头成像特殊光源、小型紫外、可见光、红外LED光源等辐照度分布测量,小功率激光光斑成像质量分析等。
技术指标:
波长测试范围 330-1000nm
辐照度范围 0.1uW/cm2-1000 mW/cm2(可定制)
辐照度精度 一级
测量尺寸 106*106(其他尺寸可定制)
成像分辨率 5120*5120
积分时间 35us-10s
辐照度测量允许误差 ±8%
辐照度重复性(标准A光源下)0.8%
分辨率 0.1mW/cm2
供电与通讯 USB3.0


