灯具测试方案
控制旋转台旋转，采集灯具的光强分布数据，计算灯具的光度数据及坐标系的转换，采用知名品牌的高转速、高转矩、低噪音、低振动的三相混合式步进电机
该系统可以配置为双立柱B-β测试方案或单立柱C-γ测试方案， 用于LED灯具（半导体照明） 、道路灯具、投光灯具、室内灯具、户外灯具等各种和LED、节能灯、荧光灯、白炽灯、HID灯等各种光源的空间光度分布（即配光曲线）的高精度测试
本系统采用固定探测器、旋转被测灯具的方法，来测量被测光源或灯具空间各个方向上的光强分布。主轴和灯具轴采用贵金属光纤点刷结构的导电滑环，可360度连续无回隙运转测量无须为防止绕线而来回旋转，永不绕线。根据测量灯具的要求，该系统可以配置为双立柱B-β测试方案或单立柱C-γ测试方案。
浙江虹谱光色科技有限公司，自2014年成立以来，始终秉持着对光学检测技术的热情与专注，致力于为全球客户提供卓越、精准的光学检测设备。我们凭借持续的技术创新和不断优化的产品性能，已成为光学检测领域的佼佼者。 作为一家专业制造光学检测设备的厂商，虹谱光色科技始终将客户的需求放在首位。我们深知光学检测在科研、工业制造、环境监测等众多领域的重要性，因此，我们不断研发新型设备，以满足不同行业对光学检测技术的需求。我们的产品广泛应用于照明、农业、医疗、半导体、光电显示、科学研究等领域，为客 …
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CXS-2600/6100是杭州虹谱光色自行研制的高精度成像色度计，采用SONY背照式CMOS传感器，高精度匹配的CIE XYZ滤光片，两级TEC半导体制冷技术，可工作在设定的恒温环境，从而大幅降低了传感器的噪声，获得了极佳的信噪比，测量结果不随环境温度变化。可满足汽车、显示、照明、电子等行业的发光按键符号、发光键盘、屏幕背光等各种发光器件的测试需求，配套软件人性化设计。
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HPG2000是立式分布光度计，国际照明委员会CIE70文件推荐的运动反光镜分布光度计。围绕测试灯具中心作圆周运动的反光镜,将灯具测量方向的光束反射到光度探测器上，实现不同平面上的光强分布曲线的测量。本系统符合美国能源之星IES LM79标准、欧洲标准EN13032、GB/T9468灯具分布光度测试的一要求等国际、国内相关标准要求。 可测量灯具的空间光强分布曲线、空间颜色分布、光强数据、灯具总光通量、有效光通量、区域光通量、灯具效率、亮度限制曲线、眩光等级、概算曲线、最大允许距高比、有效发光角、上射光通量、下射光通量、等照度曲线、等光强曲线等光度参数。可以导出IES文件、CIE文件、LTD文件
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HPCS-6300IR红外光谱分析仪集光度参数、色度参数、红外辐射光功率、红外辐照度参数(可选)、电参数等与一身的多参数多功能型综合测试系统。产品采用模块化、一体化设计，使结构紧凑恰到好处。搭配10.1时的工业级全彩色液晶屏和高灵敏度的全屏电容触摸，使得运行在内置高速处理器中自主研发的人机交互系统更加方便用户的操作与使用。内置的高精度光谱分析仪、精密的直流稳压稳流电源满足用户对不同功能的需求。小小的体积提供了比以往传统大型机柜测试系统性能更高的测试结果，其精准的结果、功能的多样、系统和结构的高度集成，不仅满足了不同客户不同行业的需求还帮助客户大幅度的节约空间并压缩成本。
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HPALTS-800助航灯光分布测试系统是用于机场助航灯光系统性能检测的专业设备，主要功能包括测量助航灯光的光强分布、光束角、颜色参数（色温、显色指数）、闪烁频率及调光特性等关键指标。
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五轴显示屏测试系统是一种集成多轴运动控制与光学检测技术的自动化测试设备，主要用于显示屏（如LCD、OLED、Micro LED等）的光学性能、显示质量及触控功能等多维度检测
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拜尔式成像色度计是采用彩色相机+算法的原理来进行补偿修正亮度和色坐标，其滤光片原理和光谱响应曲线如下。拜尔式是用4个像素的组合计算得到一个像素点的数据，因此需要4个像素相当于色轮滤光片式的像素。如6100万色轮滤光片式的像素9568×6380，对应拜尔式只相当于4784×3190=1526万像素(实际应用中会用算法得到更多的像素点，本质上是有像素损失的)。色轮滤光片式一次完整的色度测试过程需要切换X,Y,Z三个色轮，测试时间相对较长，拜尔式只需要拍摄一次即可，速度快和成本低是拜尔
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采用在成像亮度计前放置半透成像膜，光源照射到白色半透膜上，在半透膜后面形成光源照射的亮度分布，成像亮度计拍摄亮度分布，经计算处理得到照射面的照度分布。应用于镜头成像特殊光源、小型LED光源等照度分布测量，小功率激光光斑成像质量分析等。
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SPCX-1200光谱成像亮度计内部集成光谱仪和成像亮度计，可对平面光源、平板显示器等产品进行光谱、色度、亮度、亮度分布等参数的测量，测试精度高，软件分析功能强大。
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HP-1700IR手持式红外光谱分析仪系列，专用于测量红光及红外光波段的辐照度和波长的测量，用于红光医疗设备的研发、红外夜视监控、红外遥控发射管、红外激光等的测量。
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