由于硅光电池具有良好的长期稳定性及使用寿命，已在光度学测试中代替硒光电池，得到了广泛应用，但硅光电池的光谱灵敏度响应曲线与CIE1931标准人眼视觉函数V(λ)有较大的差别。国际上一般采用特殊设计的滤色器对曲线加于修正，修正水平的高低直接影响到仪器的测试精度。本公司原有探测器的V(λ)修正水平高，达到国家一级照度计要求。其结构示意图如图3-1所示。
图3-1 有源探测器结构示意图
注：光度探测器的光谱灵敏度在被测器件发射的光谱波长范围内应该校准到CIE（国际照明委员会）标准光度观测者光谱曲线;测试辐射参数时应采用无光谱选择性的光探测器。根据照度的平方反比定律和余弦定律，可得到下面公式：E ＝ I cosθ/ r2
通过对照度的测量，就可以计算出平均光强。
I ＝ E*r2
根据上述的光强测量原理，用已知光强度的标准灯对本仪器进行定标后，在系统测量过程中得到的测量值乘以定标系数就是在该条件下被测器件的照度，再分别乘以不同的距离r的平方就得到光强。
光强分布测试：
由微处理器控制轴旋转，严格保证角度精度，测量各个角度的发光强度值。微处理器通过RS－232C将采样值送计算机软件，软件计算处理后显示分布曲线和重要的数据参数，其测量数据以报告的形式显示。
